Statická analýza obrazu částic

Statická analýza obrazu částic by se správně měla nazývat analýza obrazu statických částic. Slouží pro stanovení velikosti a tvaru, případně též složení částic. Takové částice nejčastěji leží na podkladovém mikroskopovém sklíčku a mají tak stabilní orientaci vůči mikroskopu. To je důležité zejména pro jehličkovité či vláknité částice, které tak vždy odhalují svou délku na rozdíl od dynamické optické analýzy. Dynamická obrazová analýza velikosti částic nemá preferenční zobrazení a jehličková částice může být natočena k objektivu libovolně a tím zkresluje výsledky. U statické metody je jednodušší částice zaostřit a navíc je možné vyhodnotit jejich výšku a případně v jejich analýze pokračovat později.

Výhodou optické analýzy statických částic oproti dynamické je zejména vysoká kvalita získaných dat pro širokou škálu velikostí již od 0,5 mikrometrů po několik milimetrů u světelných mikroskopů (závisí na volbě objektivu) či desítek nanometrů u elektronových mikroskopů. Nevýhodou oproti dynamické analýze ovšem je pomalejší sběr dat a nutná příprava vzorku. Dynamická optická analýza se dá prohlásit za spíše kvalitativní podpůrnou metodu v kontrole kvality spíše velkých částic (stovky mikrometrů) s rychlými přibližnými výsledky bez potřeby přípravy vzorku. Jak světelný tak elektronový mikroskop lze dále kombinovat se spektrometry pro stanovení složení částic. U světelného systému jde o ramanův spektrometr. U elektronového mikroskopu se jedná o energiově-disperzní spektrometr pro určení lokálního prvkového složení.